{"id":63,"date":"2022-07-15T11:34:42","date_gmt":"2022-07-15T09:34:42","guid":{"rendered":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/?page_id=63"},"modified":"2022-07-28T12:59:19","modified_gmt":"2022-07-28T10:59:19","slug":"equipos","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/equipos\/","title":{"rendered":"Equipos"},"content":{"rendered":"\n<p>Los laboratorios est\u00e1n ubicados en los laboratorios del grupo REDEC del Departamento de Ingenier\u00eda Electr\u00f3nica, en la Escuela de Ingenier\u00eda de la UAB. Estos laboratorios est\u00e1n equipados con los instrumentos necesarios para la caracterizaci\u00f3n el\u00e9ctrica est\u00e1ndar de dispositivos micro y nanoelectr\u00f3nicos a nivel de oblea y con Microscopios de Fuerzas At\u00f3micas (con m\u00f3dulos adicionales para la caracterizaci\u00f3n el\u00e9ctrica) para el estudio en la nanoscala de materiales y estructuras. Concretamente se dispone de:<\/p>\n\n\n\n<p><strong>Laboratorio de caracterizaci\u00f3n a la nanoscala:<\/strong><\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\"><li>AFM (Atomic Force Microscope) de CSI (Concept Scientific Instruments): Medidas de topograf\u00eda, conductividad (CAFM), potencial de contacto&nbsp; (KPFM) single pass. Est\u00e1 equipado con el modulo Resiscope per incrementar el rango din\u00e1mico de corriente de 1pA a 100\u03bcA. Permite realizar medidas en ambiente controlado, por ejemplo, en N<sub>2<\/sub>.<\/li><\/ul>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\"><li>AFM (Atomic Force Microscope) de Agilent Technologies: Medidas de topograf\u00eda, conductividad (CAFM), Est\u00e1 equipado con el modulo Resiscope per incrementar el rango din\u00e1mico de corriente de 1pA a 100\u03bcA. Permite realizar medidas en ambiente controlado, por ejemplo, en N<sub>2<\/sub>.<\/li><\/ul>\n\n\n\n<p><strong>Laboratorio de caracterizaci\u00f3n el\u00e9ctrica de dispositivos y circuitos <\/strong><strong><\/strong><\/p>\n\n\n\n<p>Sistema completo para realizar tests en temperatura, tensi\u00f3n y corriente de precisi\u00f3n en dispositivos y circuitos electr\u00f3nicos, que consta de: <\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\"><li>Mesas de puntas manual y semi-autom\u00e1tica para realizar medidas de corriente y voltaje con precisi\u00f3n a nivel de oblea, equipadas con thermochuck para variar la temperatura.<\/li><\/ul>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\"><li>Sistema de instrumentaci\u00f3n electr\u00f3nica para la caracterizaci\u00f3n el\u00e9ctrica est\u00e1ndard de dispositivos y circuitos electr\u00f3nics, que consta de: LCR meter, Analizadores de Par\u00e1metros de Semiconductores Keithley 4200A-SCS (equipado con m\u00f3dulo ultrar\u00e1pido) y Agilent 4156C, Generador de Pulsos Keysight 81160A y Osciloscopio digital de altas prestaciones Keysight MSOS254A<\/li><\/ul>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Los laboratorios est\u00e1n ubicados en los laboratorios del grupo REDEC del Departamento de Ingenier\u00eda Electr\u00f3nica, en la Escuela de Ingenier\u00eda de la UAB. Estos laboratorios est\u00e1n equipados con los instrumentos necesarios para la caracterizaci\u00f3n el\u00e9ctrica est\u00e1ndar de dispositivos micro y nanoelectr\u00f3nicos a nivel de oblea y con Microscopios de Fuerzas At\u00f3micas (con m\u00f3dulos adicionales para [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":37,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":2,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"footnotes":""},"class_list":["post-63","page","type-page","status-publish","hentry"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/63","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/wp-json\/wp\/v2\/users\/37"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=63"}],"version-history":[{"count":4,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/63\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":93,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/63\/revisions\/93"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=63"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}