Este LPS pretende aprovechar la experiencia de los miembros del grupo REDEC en las t\u00e9cnicas experimentales utilizadas en los \u00e1mbitos de investigaci\u00f3n en los que trabajan, ofreciendo servicios relacionados con la caracterizaci\u00f3n topogr\u00e1fica y el\u00e9ctrica en la nanoscala de materiales y dispositivos con t\u00e9cnicas relacionadas con el AFM (Microscop\u00eda de Fuerzas At\u00f3micas), as\u00ed como de caracterizaci\u00f3n el\u00e9ctrica y evaluaci\u00f3n de la fiabilidad de dispositivos y\/o circuitos electr\u00f3nicos.<\/p>\n\n\n\n
Concretamente, se ofrecen los siguientes servicios:<\/p>\n\n\n\n
(1) Caracterizaci\u00f3n de materiales, dispositivos y circuitos<\/strong><\/p>\n\n\n\n – Tests con resoluci\u00f3n espacial nanom\u00e9trica (AFM): Caracterizaci\u00f3n de la morfolog\u00eda y propiedades el\u00e9ctricas (conductividad y potencial de contacto con CAFM y KPFM, respectivamente) de superficies y estructuras en la nanoscala.<\/p>\n\n\n\n – Tests el\u00e9ctricos a nivel de dispositivo y\/o circuito: Caracterizaci\u00f3n el\u00e9ctrica est\u00e1ndar y tests de fiabilidad de dispositivos y\/o circuitos a nivel de oblea.<\/p>\n\n\n\n – Estimaci\u00f3n de fiabilidad de materiales, dispositivos y circuitos.<\/p>\n\n\n\n (2) Consultor\u00eda<\/strong><\/p>\n\n\n\n Asesoramiento sobre el dise\u00f1o de los tests y su implementaci\u00f3n por la caracterizaci\u00f3n el\u00e9ctrica y evaluaci\u00f3n de fiabilidad de productos electr\u00f3nicos.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":" Este LPS pretende aprovechar la experiencia de los miembros del grupo REDEC en las t\u00e9cnicas experimentales utilizadas en los \u00e1mbitos de investigaci\u00f3n en los que trabajan, ofreciendo servicios relacionados con la caracterizaci\u00f3n topogr\u00e1fica y el\u00e9ctrica en la nanoscala de materiales y dispositivos con t\u00e9cnicas relacionadas con el AFM (Microscop\u00eda de Fuerzas At\u00f3micas), as\u00ed como de […]<\/p>\n","protected":false},"author":37,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"footnotes":""},"class_list":["post-65","page","type-page","status-publish","hentry"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/65","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/wp-json\/wp\/v2\/users\/37"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=65"}],"version-history":[{"count":2,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/65\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":87,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/65\/revisions\/87"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=65"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}