Els laboratoris estan ubicats als laboratoris del grup REDEC del Departament d’Enginyeria Electrònica, a l’Escola d’Enginyeria de la UAB. Aquests laboratoris estan equipats amb els instruments necessaris per a la caracterització elèctrica estàndard de dispositius micro i nanoelectrònics a nivell d’oblia i amb Microscopis de Forces Atòmiques (amb mòduls addicionals per a la caracterització elèctrica) per a l’estudi a la nanoscala de materials i estructures. Concretament es disposa de:
Laboratori de caracterització a la nanoscala:
- AFM (Atomic Force Microscope) de CSI (Concept Scientific Instruments): Mesures de topografia, conductivitat (CAFM), potencial de contacte (KPFM) single pass. Està equipat amb el mòdul Resiscope per incrementar el rang dinàmic de corrent de 1pA a 100μA. Permet realitzar mesures en ambient controlat, com ara N2.
- AFM (Atomic Force Microscope) de Agilent Technologies: Mesures de topografia i conductivitat (CAFM): Està equipat amb el mòdul Resiscope per incrementar el rang dinàmic de corrent de 1pA a 100μA. Permet realitzar mesures en ambient controlat, com ara N2.
Laboratori de caracterització elèctrica de dispositius
Sistema complert per a fer mesures en temperatura de tensió i corrent de precisió en dispositius i circuits electrònics, que consta de:
- Taules de puntes manual i semi-automàtica per a realitzar mesures de corrent i voltatge amb precisió a nivell d’oblia, equipades amb thermochuck per a variar la temperatura.
- Sistema d’instrumentació electrònica per a la caracterització elèctrica estàndard de dispositius i circuits electrònics, que consta de: LCR meter, analitzadors de Paràmetres de Semiconductors Keithley 4200A-SCS (equipat amb mòdul ultraràpid) i Agilent 4156C, Generador de Polsos Keysight 81160A i Oscil·loscopi digital d’altes prestacions Keysight MSOS254A.
