{"id":2,"date":"2022-07-15T11:34:42","date_gmt":"2022-07-15T09:34:42","guid":{"rendered":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/?page_id=2"},"modified":"2022-07-28T12:37:24","modified_gmt":"2022-07-28T10:37:24","slug":"pagina-exemple","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/pagina-exemple\/","title":{"rendered":"Equipament"},"content":{"rendered":"\n<p>Els laboratoris estan ubicats als laboratoris del grup REDEC del Departament d\u2019Enginyeria Electr\u00f2nica, a l\u2019Escola d\u2019Enginyeria de la UAB. Aquests laboratoris estan equipats amb els instruments necessaris per a la caracteritzaci\u00f3 el\u00e8ctrica est\u00e0ndard de dispositius micro i nanoelectr\u00f2nics a nivell d\u2019oblia i amb Microscopis de Forces At\u00f2miques (amb m\u00f2duls addicionals per a la caracteritzaci\u00f3 el\u00e8ctrica) per a l\u2019estudi a la nanoscala de materials i estructures. Concretament es disposa de:<\/p>\n\n\n\n<p><strong>Laboratori de caracteritzaci\u00f3 a la nanoscala:<\/strong><\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\"><li>AFM (Atomic Force Microscope) de CSI (Concept Scientific Instruments): Mesures de topografia, conductivitat (CAFM), potencial de contacte\u00a0 (KPFM) single pass. Est\u00e0 equipat amb el m\u00f2dul Resiscope per incrementar el rang din\u00e0mic de corrent de 1pA a 100\u03bcA. Permet realitzar mesures en ambient controlat, com ara N<sub>2<\/sub>.<\/li><\/ul>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\"><li>AFM (Atomic Force Microscope) de Agilent Technologies: Mesures de topografia i conductivitat (CAFM): Est\u00e0 equipat amb el m\u00f2dul Resiscope per incrementar el rang din\u00e0mic de corrent de 1pA a 100\u03bcA. Permet realitzar mesures en ambient controlat, com ara N<sub>2<\/sub>.<\/li><\/ul>\n\n\n\n<p><strong>Laboratori de caracteritzaci\u00f3 el\u00e8ctrica de dispositius <\/strong><strong><\/strong><\/p>\n\n\n\n<p>Sistema complert per a fer mesures en temperatura de tensi\u00f3 i corrent de precisi\u00f3 en dispositius i circuits electr\u00f2nics, que consta de: <\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\"><li>Taules de puntes manual i semi-autom\u00e0tica per a realitzar mesures de corrent i voltatge amb precisi\u00f3 a nivell d\u2019oblia, equipades amb thermochuck per a variar la temperatura.<\/li><\/ul>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\"><li>Sistema d\u2019instrumentaci\u00f3 electr\u00f2nica per a la caracteritzaci\u00f3 el\u00e8ctrica est\u00e0ndard de dispositius i circuits electr\u00f2nics, que consta de: LCR meter, analitzadors de Par\u00e0metres de Semiconductors Keithley 4200A-SCS (equipat amb m\u00f2dul ultrar\u00e0pid) i Agilent 4156C, Generador de Polsos Keysight 81160A i Oscil\u00b7loscopi digital d\u2019altes prestacions Keysight MSOS254A.<\/li><\/ul>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Els laboratoris estan ubicats als laboratoris del grup REDEC del Departament d\u2019Enginyeria Electr\u00f2nica, a l\u2019Escola d\u2019Enginyeria de la UAB. Aquests laboratoris estan equipats amb els instruments necessaris per a la caracteritzaci\u00f3 el\u00e8ctrica est\u00e0ndard de dispositius micro i nanoelectr\u00f2nics a nivell d\u2019oblia i amb Microscopis de Forces At\u00f2miques (amb m\u00f2duls addicionals per a la caracteritzaci\u00f3 el\u00e8ctrica) [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":37,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":2,"comment_status":"closed","ping_status":"open","template":"","meta":{"footnotes":""},"class_list":["post-2","page","type-page","status-publish","hentry"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/wp-json\/wp\/v2\/users\/37"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=2"}],"version-history":[{"count":6,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":88,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2\/revisions\/88"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=2"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}