{"id":22,"date":"2022-07-27T14:45:05","date_gmt":"2022-07-27T12:45:05","guid":{"rendered":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/?page_id=22"},"modified":"2022-07-28T12:53:32","modified_gmt":"2022-07-28T10:53:32","slug":"pagina-exemple-2","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/pagina-exemple-2\/","title":{"rendered":"Serveis"},"content":{"rendered":"\n<p>Aquest LPS pret\u00e9n aprofitar l\u2019experi\u00e8ncia dels membres del grup REDEC en les t\u00e8cniques experimentals emprades en els&nbsp; \u00e0mbits de recerca en els quals treballen, oferint serveis relacionats amb la caracteritzaci\u00f3 topogr\u00e0fica i el\u00e8ctrica a la nanoscala de materials i dispositius&nbsp; amb t\u00e8cniques relacionades amb l\u2019AFM (Microscopia de Forces At\u00f2miques), aix\u00ed com de caracteritzaci\u00f3 el\u00e8ctrica i avaluaci\u00f3 de la fiabilitat de dispositius i\/o circuits electr\u00f2nics.<\/p>\n\n\n\n<p>Concretament, s\u2019ofereixen els seg\u00fcents serveis:<\/p>\n\n\n\n<p><strong>(1) Caracteritzaci\u00f3 de materials, dispositius i circuits<\/strong><\/p>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\"><li>Tests amb resoluci\u00f3 espaial nanom\u00e8trica (AFM): Caracteritzaci\u00f3 de la morfologia i propietats el\u00e8ctriques (conductivitat i potencial de contacte amb CAFM i KPFM, respectivament) de superf\u00edcies i estructures a la nanoscala.<\/li><\/ul>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\"><li>Tests el\u00e8ctrics a nivell de dispositiu i\/o circuit: Caracteritzaci\u00f3 el\u00e8ctrica est\u00e0ndard i tests de fiabilitat de dispositius i\/o circuits a nivell d\u2019oblia.<\/li><\/ul>\n\n\n\n<ul class=\"wp-block-list\"><li>Estimaci\u00f3 de fiabilitat de materials, dispositius i circuits.<\/li><\/ul>\n\n\n\n<p><strong>(2) Consultoria<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p>Assessorament sobre el disseny dels tests i la seva implementaci\u00f3 per la caracteritzaci\u00f3 el\u00e8ctrica i avaluaci\u00f3 de fiabilitat de productes electr\u00f2nics.<\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Aquest LPS pret\u00e9n aprofitar l\u2019experi\u00e8ncia dels membres del grup REDEC en les t\u00e8cniques experimentals emprades en els&nbsp; \u00e0mbits de recerca en els quals treballen, oferint serveis relacionats amb la caracteritzaci\u00f3 topogr\u00e0fica i el\u00e8ctrica a la nanoscala de materials i dispositius&nbsp; amb t\u00e8cniques relacionades amb l\u2019AFM (Microscopia de Forces At\u00f2miques), aix\u00ed com de caracteritzaci\u00f3 el\u00e8ctrica i [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":37,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"footnotes":""},"class_list":["post-22","page","type-page","status-publish","hentry"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/22","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/wp-json\/wp\/v2\/users\/37"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=22"}],"version-history":[{"count":4,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/22\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":92,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/22\/revisions\/92"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/lps-ceafm\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=22"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}