Authors Javier Martín-Martínez Citation Key 187 COinS Data Date Published 07/2009 University Universitat Autònoma de Barcelona Advisor M. Nafría and R. Rodríguez Year of Publication 2009 ← Degradació del stack dielèctric de porta SiO2/high-k en dispositius MOS: BTI i portadors calents → Ruptura dielèctrica i NBTI en dispositius i circuits CMOS nanoelectrònics