{"id":156,"date":"2009-05-25T13:20:37","date_gmt":"2009-05-25T11:20:37","guid":{"rendered":"https:\/\/webs.uab.cat\/redec\/recerca\/"},"modified":"2025-05-19T21:07:11","modified_gmt":"2025-05-19T19:07:11","slug":"recerca","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/webs.uab.cat\/redec\/recerca\/","title":{"rendered":"Recerca"},"content":{"rendered":"<p><strong>\u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0\u00a0<\/strong><\/p>\n<p><strong>Objectius:<\/strong><\/p>\n<p><strong>La investigaci\u00f3 de REDEC<\/strong> es centra en la fiabilitat i variabilitat de dispositius CMOS nanoelectr\u00f2nics, de dispositius emergents i dels circuits en que s\u2019integren. \u00a0Per la caracteritzaci\u00f3 el\u00e8ctrica i modelat de la variabilitat depenent del temps del dispositius d\u2019aquestes tecnologies s\u2019adopta una aproximaci\u00f3 multinivell, que cobreix des de la nanoescala fins els nivells de dispositiu i circuit. L\u2019objectiu final \u00e9s el desenvolupament de models compactes (basats en la f\u00edsica dels dispositius) que puguin ser inclosos en els simuladors de fiabilitat de circuits que es requereixen en el context del \u2018Disseny per la Fiabilitat\u2019. Aquesta aproximaci\u00f3 es fa extensiva a altres dispositius nanoelectr\u00f2nics emergents, com els basats en la Commutaci\u00f3 Resistiva i en el graf\u00e8.<\/p>\n<p><strong>Paraules clau: <\/strong>Tecnologia CMOS, nanoelectr\u00f2nica, fiabilitat, variabilitat, caracteritzaci\u00f3 el\u00e9ctrica, microscop\u00eda de forces at\u00f2miques, mecanismes d&#8217;envelliment, modelat compacte, simulacions TCAD, Commutaci\u00f3 Resistiva, RRAM, dispositius de Graf\u00e8, hardware neurom\u00f2rfic.<\/p>\n<p><strong>L\u00ednies de recerca:<\/strong><\/p>\n<ul>\n<li>Caracteritzaci\u00f3 i modelat dels mecanismes d\u2019envelliment (RTN, BTI, HCI) en dispositius nanoelectr\u00f2nics avan\u00e7ats, incloent la variabilitat associada al proc\u00e9s de fabricaci\u00f3. Avaluaci\u00f3 en la nanoescala (amb CAFM) i a nivell de dispositiu.<\/li>\n<\/ul>\n<ul>\n<li>Modelat compacte dels mecanismes d\u2019envelliment, per la seva inclusi\u00f3 en simuladors de fiabilitat de circuits.<\/li>\n<\/ul>\n<ul>\n<li>Dispositius \u2018Resistive Switching\u2019. Caracteritzaci\u00f3 i modelat. Arquitectures de computaci\u00f3.<\/li>\n<\/ul>\n<ul>\n<li>Fonts de variabilitat en nanodispositius basats en graf\u00e8.<\/li>\n<\/ul>\n<p><a href=\"http:\/\/grupsderecerca.uab.cat\/redec\/content\/impacte-dels-mecanismes-de-fallada-en-el-funcionament-de-dispositius-i-circuits\">Impacte dels mecanismes de fallada en el funcionament de dispositius i circuits<\/a><\/p>\n<p><a href=\"http:\/\/grupsderecerca.uab.cat\/redec\/content\/impacte-dels-mecanismes-de-fallada-en-el-funcionament-de-dispositius-i-circuits\">Caracteritzaci\u00f3 a escala nanom\u00e8trica de les propietats el\u00e8ctriques i la fiabilitat de dispositius electr\u00f2nics<\/a><\/p>\n","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>\u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0 \u00a0\u00a0 Objectius: La investigaci\u00f3 de REDEC es centra en la fiabilitat i variabilitat de dispositius CMOS nanoelectr\u00f2nics, de dispositius emergents i dels circuits en que s\u2019integren. \u00a0Per [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":20,"featured_media":0,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"footnotes":""},"class_list":["post-156","page","type-page","status-publish","hentry"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/redec\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/156","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/redec\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/redec\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/redec\/wp-json\/wp\/v2\/users\/20"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/redec\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=156"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/redec\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/156\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1189,"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/redec\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/156\/revisions\/1189"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/webs.uab.cat\/redec\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=156"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}