{"id":157,"date":"2009-05-25T13:22:03","date_gmt":"2009-05-25T11:22:03","guid":{"rendered":"https:\/\/webs.uab.cat\/redec\/projectes-rd\/"},"modified":"2009-05-25T13:22:03","modified_gmt":"2009-05-25T11:22:03","slug":"projectes-rd","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/webs.uab.cat\/redec\/projectes-rd\/","title":{"rendered":"Projectes R+D"},"content":{"rendered":"

Projecte principal:    MARAGDA<\/strong><\/p>\n

http:\/\/www2.imse-cnm.csic.es\/maragda\/<\/a><\/p>\n

(Projectes I+D+i – Retpes 2013. Programa Estatal d’Investigaci\u00f3, Desenvolup\u00e0ment innovaci\u00f3 orientada als Retpes de la Societat)<\/p>\n

T\u00edtulo:<\/strong> Aproximaci\u00f3 multinivell al diseny orientat a la fiabilitat de circuits integrats anal\u00f2gics i digitals.<\/em>
\nAcr\u00f2nim:<\/strong> MARAGDA
\nDuraci\u00f3 del projecte:<\/strong> 3 a\u00f1os<\/p>\n

Paraules clau:<\/strong> Variabilitat, Fiabilitat, CMOS, Dispositius emergents, Metodologies de modelat\/simulaci\u00f3\/s\u00edntesi, Diseny per variabilitat-fiabilitat, Sensors, adaptaci\u00f3, reconfiguraci\u00f3, tolerancia a fallades.<\/p>\n

Resumen del proyecto:<\/strong><\/p>\n

El proyecto MARAGDA se enmarca en el contexto tecnol\u00f3gico actual en el que la variabilidad de los dispositivos en las tecnolog\u00edas CMOS modernas, con dimensiones de nanoescala, impone un serio cambio de paradigma en todos los aspectos relacionados con el dise\u00f1o de circuitos integrados. Los procesos de fabricaci\u00f3n introducen heterogeneidades entre componentes de tipo estad\u00edstico, que se manifiestan como desviaciones aleatorias en sus caracter\u00edsticas, incluso dentro de un mismo circuito integrado. De manera a\u00f1adida, los elevados campos el\u00e9ctricos y temperaturas en los dispositivos, resultado del agresivo escalado, causan una dr\u00e1stica amplificaci\u00f3n de sus mecanismos de degradaci\u00f3n o envejecimiento, que llevan a su vez a unas variaciones dependientes del tiempo. La combinaci\u00f3n de ambos fen\u00f3menos, variabilidad y degradaci\u00f3n, conducen a una negativa, aleatoria y progresiva deriva de las caracter\u00edsticas el\u00e9ctricas de los dispositivos, que causa a su vez una variabilidad paralela en circuitos y sistemas, impactando dram\u00e1ticamente al rendimiento de fabricaci\u00f3n, a sus prestaciones y fiabilidad, si se implementan bajo los principios convencionales del dise\u00f1o de circuitos integrados. Para reducir o evitar los efectos de la variabilidad se deben adoptar estrategias multicapa o multinivel (en el flujo de dise\u00f1o), tal como se pauta en el ITRS. El proyecto MARAGDA adopta esta aproximaci\u00f3n multinivel, desarrollando nuevos principios y metodolog\u00edas de dise\u00f1o a trav\u00e9s de sus diversas capas para conseguir circuitos anal\u00f3gicos, de se\u00f1al mixta, RF (AMS\/RF) y digitales de altas prestaciones y elevada robustez. En el proyecto se coordinan los conocimientos complementarios de los tres equipos solicitantes, todos ellos con demostrada experiencia en los campos de la variabilidad y fiabilidad en nanoelectr\u00f3nica: la caracterizaci\u00f3n el\u00e9ctrica y fiabilidad de dispositivos (UAB), las metodolog\u00edas de s\u00edntesis de circuitos AMS\/RF (IMSE-US), el dise\u00f1o de circuitos AMS\/RF (IMSE-US y UPC) y las metodolog\u00edas de dise\u00f1o de circuitos digitales adaptativos, reconfigurables y tolerantes a fallos (UPC). Mediante este conocimiento conjunto y una metodolog\u00eda compartida entre los equipos, el proyecto ofrece un enfoque multicapa en el dise\u00f1o de circuitos integrados. El proyecto analiza la variabilidad y degradaci\u00f3n estad\u00edstica usando t\u00e9cnicas de caracterizaci\u00f3n de alta resoluci\u00f3n, con el objetivo de desarrollar los modelos adecuados, que combinados con una eficiente metodolog\u00eda de simulaci\u00f3n de fiabilidad (desarrollada en el proyecto), permitir\u00e1n a los dise\u00f1adores valorar el impacto de la variabilidad y degradaci\u00f3n a nivel de dispositivo en las prestaciones, rendimiento y fiabilidad de los sistemas desarrollados. Esta metodolog\u00eda permitir\u00e1 a su vez la investigaci\u00f3n de innovadoras metodolog\u00edas de s\u00edntesis y dise\u00f1o multicapa de circuitos AMS\/RF y digital que incluyan t\u00e9cnicas de adaptaci\u00f3n, reconfiguraci\u00f3n y tolerancia a fallos en sistemas implementados con dispositivos de \u00faltimas generaciones. En MARAGDA se consideran tambi\u00e9n nuevos paradigmas que exploran las ventajas que pueden ofrecer nuevos dispositivos emergentes, lo que constituye tambi\u00e9n un objetivo fundamental del proyecto. El proyecto incluye una completa serie de experimentos que est\u00e1n destinados a verificar las t\u00e9cnicas de an\u00e1lisis y dise\u00f1o as\u00ed como la prueba de concepto en los diversos aspectos investigados.<\/p>\n

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