Los laboratorios están ubicados en los laboratorios del grupo REDEC del Departamento de Ingeniería Electrónica, en la Escuela de Ingeniería de la UAB. Estos laboratorios están equipados con los instrumentos necesarios para la caracterización eléctrica estándar de dispositivos micro y nanoelectrónicos a nivel de oblea y con Microscopios de Fuerzas Atómicas (con módulos adicionales para la caracterización eléctrica) para el estudio en la nanoscala de materiales y estructuras. Concretamente se dispone de:
Laboratorio de caracterización a la nanoscala:
- AFM (Atomic Force Microscope) de CSI (Concept Scientific Instruments): Medidas de topografía, conductividad (CAFM), potencial de contacto (KPFM) single pass. Está equipado con el modulo Resiscope per incrementar el rango dinámico de corriente de 1pA a 100μA. Permite realizar medidas en ambiente controlado, por ejemplo, en N2.
- AFM (Atomic Force Microscope) de Agilent Technologies: Medidas de topografía, conductividad (CAFM), Está equipado con el modulo Resiscope per incrementar el rango dinámico de corriente de 1pA a 100μA. Permite realizar medidas en ambiente controlado, por ejemplo, en N2.
Laboratorio de caracterización eléctrica de dispositivos y circuitos
Sistema completo para realizar tests en temperatura, tensión y corriente de precisión en dispositivos y circuitos electrónicos, que consta de:
- Mesas de puntas manual y semi-automática para realizar medidas de corriente y voltaje con precisión a nivel de oblea, equipadas con thermochuck para variar la temperatura.
- Sistema de instrumentación electrónica para la caracterización eléctrica estándard de dispositivos y circuitos electrónics, que consta de: LCR meter, Analizadores de Parámetros de Semiconductores Keithley 4200A-SCS (equipado con módulo ultrarápido) y Agilent 4156C, Generador de Pulsos Keysight 81160A y Osciloscopio digital de altas prestaciones Keysight MSOS254A
