Este LPS pretende aprovechar la experiencia de los miembros del grupo REDEC en las técnicas experimentales utilizadas en los ámbitos de investigación en los que trabajan, ofreciendo servicios relacionados con la caracterización topográfica y eléctrica en la nanoscala de materiales y dispositivos con técnicas relacionadas con el AFM (Microscopía de Fuerzas Atómicas), así como de caracterización eléctrica y evaluación de la fiabilidad de dispositivos y/o circuitos electrónicos.
Concretamente, se ofrecen los siguientes servicios:
(1) Caracterización de materiales, dispositivos y circuitos
– Tests con resolución espacial nanométrica (AFM): Caracterización de la morfología y propiedades eléctricas (conductividad y potencial de contacto con CAFM y KPFM, respectivamente) de superficies y estructuras en la nanoscala.
– Tests eléctricos a nivel de dispositivo y/o circuito: Caracterización eléctrica estándar y tests de fiabilidad de dispositivos y/o circuitos a nivel de oblea.
– Estimación de fiabilidad de materiales, dispositivos y circuitos.
(2) Consultoría
Asesoramiento sobre el diseño de los tests y su implementación por la caracterización eléctrica y evaluación de fiabilidad de productos electrónicos.
