Aquest LPS pretén aprofitar l’experiència dels membres del grup REDEC en les tècniques experimentals emprades en els àmbits de recerca en els quals treballen, oferint serveis relacionats amb la caracterització topogràfica i elèctrica a la nanoscala de materials i dispositius amb tècniques relacionades amb l’AFM (Microscopia de Forces Atòmiques), així com de caracterització elèctrica i avaluació de la fiabilitat de dispositius i/o circuits electrònics.
Concretament, s’ofereixen els següents serveis:
(1) Caracterització de materials, dispositius i circuits
- Tests amb resolució espaial nanomètrica (AFM): Caracterització de la morfologia i propietats elèctriques (conductivitat i potencial de contacte amb CAFM i KPFM, respectivament) de superfícies i estructures a la nanoscala.
- Tests elèctrics a nivell de dispositiu i/o circuit: Caracterització elèctrica estàndard i tests de fiabilitat de dispositius i/o circuits a nivell d’oblia.
- Estimació de fiabilitat de materials, dispositius i circuits.
(2) Consultoria
Assessorament sobre el disseny dels tests i la seva implementació per la caracterització elèctrica i avaluació de fiabilitat de productes electrònics.
