K. Zhang

Inici
Equip
Recerca
- Impacte dels mecanismes de fallada en el funcionament de dispositius i circuits
- Caracterització a escala nanomètrica de les propietats elèctriques i la fiabilitat de dispositius electrònics
Projectes R+D
Publicacions
Equipaments
VIGILANT
Contacte

← J. C. Moreno → Z. Y. Shen

Contacte i informació legal

Sobre el web

Universitat Autònoma de Barcelona

Avís legal
Protecció de dades
Accessibilitat web

Som una universitat capdavantera que imparteix una docència de qualitat i excel·lència, diversificada, multidisciplinària i flexible, ajustada a les necessitats de la societat i adaptada als nous models de l'Europa del coneixement. La UAB és reconeguda internacionalment per la qualitat i el caràcter innovador de la seva recerca.

Vés a dalt ↑ Puja ↑