Authors Montserrat Nafría-Maqueda Citation Key 192 COinS Data Date Published 07/1993 University Universitat Autònoma de Barcelona Advisor X. Aymerich Year of Publication 1993 ← Anàlisis de la degradació i ruptura dielèctrica de capes fines de SiO2 en dispositius MOS sotmesos a estressos estàticos i dinàmics → Observaciones topográficas y eléctricas de dieléctricos high-k basados en HfO2 con C-AFM: análisis del impacto de los parámetros experimentales