Authors Albert Crespo-Yepes Citation Key 194 COinS Data Date Published 09/2009 Publisher Universitat Autònoma de Barcelona Tertiary Authors J. Martín-Martínez i R. Rodríguez Year of Publication 2009 ← Observaciones topográficas y eléctricas de dieléctricos high-k basados en HfO2 con C-AFM: análisis del impacto de los parámetros experimentales → Ruptura en condiciones de estrés dinámico en transistores MOSFET con dieléctricos high-k