Authors Vanessa Iglesias Citation Key 193 COinS Data Date Published 09/2009 Publisher Universitat Autònoma de Barcelona Tertiary Authors M. Porti Year of Publication 2009 ← Anàlisis de la ruptura dielèctrica del SiO2 per la simulació de fiabilitat → Estudi de la reversibilitat de la ruptura dielèctrica en dispositius MOS amb dielèctric high-k ultra prim