REDEC dispone de dos laboratorios totalmente equipados para la caracterización de dispositivos y circuitos a nivel macroscópico y nanoscópico.

Laboratori de Caracterizació Macroscòpica

Equipamiento:

  • 4284A Precision LCR Meter
  • 4156C Precision Semiconductor Parameter Analyzer
  • 4155 Precision Semiconductor Parameter Analyzer
  • K4200 Semiconductor Characterization System amb PGU
  • E5250A Low Leakage switch Mainframe
  • 81101A Pulse Generator
  • 2431L Oscilloscope
  • Software Metrics Agilent I/CV
  • SUN Blade 1500
  • T-CAD Synopsis software
  • PCI-GPIB Board
  • HC100 Plotter
  • 2 Caixes de Faraday
  • Manual Station Probe Wentworth
  • Semi-Automatic Station Probe Cascade REL-6100
  • TP03010B Termochuck
  • APC SAI 2200

Esta instrumentación se utiliza para el estudio del impacto de los diferentes mecanismos de fallo relacionados con el óxido de puerta en dispositivos MOS (degradación y ruptura dieléctrica, Negative Bias Temperature Instability, Channel Hot Carrier degradation) en el funcionamiento de los dispositivos y circuitos electrónicos.

 

Laboratori de Caracterizació Nanoscòpica

Equipamiento:

  • 4145 Semiconductor Parameter Analyzer
  • TDS 220 Oscilloscope
  • Low noise preamplifier FEMTO
  • Faraday Box
  • C-AFM (Conductive Atomic Force Microscope) de Nanotec
  • C-AFM amb ambient controlat de Scientec
  • ECAFM (Enhaced Conductive Atomic Force Microscope)
  • AFG5501 Arbitrari Function Generator
  • TK-C1380 Video Camara
  • 2636 System Sourcemeter

Esta instrumentación se utiliza para caracterizar eléctricamente y evaluar la fiabilidad de dispositivos electrónicos a escala nanométrica.