REDEC dispone de dos laboratorios totalmente equipados para la caracterización de dispositivos y circuitos a nivel macroscópico y nanoscópico.
Laboratori de Caracterizació Macroscòpica
Equipamiento:
- 4284A Precision LCR Meter
- 4156C Precision Semiconductor Parameter Analyzer
- 4155 Precision Semiconductor Parameter Analyzer
- K4200 Semiconductor Characterization System amb PGU
- E5250A Low Leakage switch Mainframe
- 81101A Pulse Generator
- 2431L Oscilloscope
- Software Metrics Agilent I/CV
- SUN Blade 1500
- T-CAD Synopsis software
- PCI-GPIB Board
- HC100 Plotter
- 2 Caixes de Faraday
- Manual Station Probe Wentworth
- Semi-Automatic Station Probe Cascade REL-6100
- TP03010B Termochuck
- APC SAI 2200
Esta instrumentación se utiliza para el estudio del impacto de los diferentes mecanismos de fallo relacionados con el óxido de puerta en dispositivos MOS (degradación y ruptura dieléctrica, Negative Bias Temperature Instability, Channel Hot Carrier degradation) en el funcionamiento de los dispositivos y circuitos electrónicos.
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Laboratori de Caracterizació Nanoscòpica
Equipamiento:
- 4145 Semiconductor Parameter Analyzer
- TDS 220 Oscilloscope
- Low noise preamplifier FEMTO
- Faraday Box
- C-AFM (Conductive Atomic Force Microscope) de Nanotec
- C-AFM amb ambient controlat de Scientec
- ECAFM (Enhaced Conductive Atomic Force Microscope)
- AFG5501 Arbitrari Function Generator
- TK-C1380 Video Camara
- 2636 System Sourcemeter
Esta instrumentación se utiliza para caracterizar eléctricamente y evaluar la fiabilidad de dispositivos electrónicos a escala nanométrica.
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