Breu presentació:
Rosana Rodríguez va obtenir el títol d’Enginyera de Telecomunicació per la Universitat Politècnica de Catalunya (UPC) el 1995 i el de doctora en Enginyeria Electrònica per la Universitat Autònoma de Barcelona (UAB) en 2000. Durant els anys 2001 i 2002 va estar treballant al centre d’investigació Thomas J. Watson de IBM a Nova York com a investigadora postdoctoral mitjançant l’obtenció d’una beca Fulbright. Actualment és professor titular a al Universitat Autònoma de Barcelona. La seva línia d’investigació principal està enfocada a la fiabilitat de dispositius i circuits CMOS. En particular, es dedica a l’anàlisi de diferents mecanismes de fallada del dielèctric de porta com la degradació i ruptura dielèctrica, NBTI i Channel Hot Carriers per estudiar l’efecte en el funcionament de dispositius i circuits CMOS analògics i digitals.