Authors Rosana Rodríguez-Martínez Citation Key 191 COinS Data Date Published 07/2000 University Universitat Autònoma de Barcelona Advisor M. Nafría Year of Publication 2000 ← Caracterizació a escala nanomètrica de la degradació i ruptura dielèctrica del SiO2 en dispositius MOS mitjançant C-AFM → Anàlisis de la ruptura dielèctrica del SiO2 per la simulació de fiabilitat