Authors Xavier Blasco-Jiménez Citation Key 189 COinS Data Date Published 07/2005 University Universitat Autónoma de Barcelona Advisor M. Nafría Year of Publication 2005 ← Ruptura dielèctrica i NBTI en dispositius i circuits CMOS nanoelectrònics → Caracterizació a escala nanomètrica de la degradació i ruptura dielèctrica del SiO2 en dispositius MOS mitjançant C-AFM